Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда.
ОКС: 31.080.10
КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
Действие: С 01.01.75
Изменен: ИУС 12/82
Примечание: переиздание 1983 в сб. "ГОСТ 18986.0-74"
Справочник ГОСТов. 2009.